高频介质损耗测试系统由S916测试装置(夹具)、WGJSTD-B/B1型介质损耗及介电常数测试仪、数据采集和tanδ自动测量控件(装入WGJSTD-B或B1、及LKI-1型电感器组成,它依据国标GB/T 1409-2006、美标ASTM D150以及电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的Z佳解决方案。
S916介质损耗及介电常数测试装置与本公司生产的各款WGJSTD系列介质损耗及介电常数测试仪配套,可用于测量绝缘材料的介电常数和介质损耗系数(损耗角正切值)。S916介质损耗测试装置是S914的换代产品,它采用了数显微测量装置,因而读数方便,数据。
S914介质损耗及介电常数测试装置与本公司生产的各款WGJSTD系列介质损耗及介电常数测试仪配套,可用于测量绝缘材料的介电常数和介质损耗系数(损耗角正切值)。采用了千分微调方式测量装置,数据。
WGJSTD-B1介质损耗及介电常数测试仪(以下简称B1测试仪)能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。该仪器广泛地用于科研机关、学校、工厂等单位。