高频介质损耗测试系统由S916测试装置（夹具）、WGJSTD-B/B1型介质损耗及介电常数测试仪、数据采集和tanδ自动测量控件（装入WGJSTD-B或B1、及LKI-1型电感器组成，它依据国标GB/T 1409-2006、美标ASTM D150以及电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值（tanδ）和介电常数（ε）自动测量的Z佳解决方案。

S916介质损耗及介电常数测试装置与本公司生产的各款WGJSTD系列介质损耗及介电常数测试仪配套，可用于测量绝缘材料的介电常数和介质损耗系数（损耗角正切值）。S916介质损耗测试装置是S914的换代产品，它采用了数显微测量装置，因而读数方便，数据。

S914介质损耗及介电常数测试装置与本公司生产的各款WGJSTD系列介质损耗及介电常数测试仪配套，可用于测量绝缘材料的介电常数和介质损耗系数（损耗角正切值）。采用了千分微调方式测量装置，数据。

WGJSTD-B1介质损耗及介电常数测试仪（以下简称B1测试仪）能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器广泛地用于科研机关、学校、工厂等单位。