高频介质损耗测试系统由S916测试装置（夹具）、WGJSTD-B/B1型介质损耗及介电常数测试仪、数据采集和tanδ自动测量控件（装入WGJSTD-B或B1、及LKI-1型电感器组成，它依据国标GB/T1409-2006、美标ASTMD150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值（tanδ）和介电常数（ε）自动测量的最佳解决方案。

S916介质损耗及介电常数测试装置与本公司生产的各款WGJSTD系列介质损耗及介电常数测试仪配套，可用于测量绝缘材料的介电常数和介质损耗系数（损耗角正切值）。S916介质损耗测试装置是S914的换代产品，它采用了数显微测量装置，因而读数方便，数据精确。

S914介质损耗及介电常数测试装置与本公司生产的各款WGJSTD系列介质损耗及介电常数测试仪配套，可用于测量绝缘材料的介电常数和介质损耗系数（损耗角正切值）。采用了千分微调方式测量装置，数据精确。

WGJSTD-B1介质损耗及介电常数测试仪（以下简称B1测试仪）能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器广泛地用于科研机关、学校、工厂等单位。

WGJSTD-B介质损耗及介电常数测试仪是我公司最新一代通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器。它以单片计算机作为仪器的控制、测量核心，真正实现了Q值的数字化，电容、电感、Q值、信号源频率都在一个液晶屏上展示出来，采用特制介质损耗测试装置和单位计算可以精确的计算出介质损耗及介电常数，在你操作时，再也不用去注意量程和换算单位。

WGJSTD-A介电常数及介质损耗测试仪是一款通用的，多用途，多量程的高频阻抗测量仪器。它可测量高频电感器，高频电容器及各种谐振元件的品质因数（Q值）、电感量、电容量、分布电容、分布电感，也可测量高频电路组件的有效串、并联电阻、传输线的特征阻抗、电容器的损耗角正切值、电工材料的高频介质损耗、介质常数等等。因而高频Q表不但广泛用于高频电子元件和材料的生产、科研、品质管理等部门、也是高频电子和通信实验